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雙晶探頭

更新時間:2021-09-03

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廠商性質:代理商

產品簡介:
兩個互成角度放置的晶片可在被測材料中創建V形聲程。這種“假性聚焦"增強了焦點區域的分辨率。雙晶探頭的兩個晶片安裝在同一個外殼中,晶片之間有隔音屏障將晶片分隔開。一個晶片發射縱波,另一個晶片作為接收器接收回波。
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應用領域化工

兩個互成角度放置的晶片可在被測材料中創建V形聲程。這種“假性聚焦"增強了焦點區域的分辨率。雙晶探頭的兩個晶片安裝在同一個外殼中,晶片之間有隔音屏障將晶片分隔開。一個晶片發射縱波,另一個晶片作為接收器接收回波。

優勢特性:

  • 改進了近表面分辨率

  • 消除了高溫應用中加倍延遲塊的需要

  • 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好

  • 降低了粗顆粒材料或散射材料中的直接背散射噪聲

  • 結合了低頻單晶探頭的穿透能力與高頻單晶探頭的近表面分辨率能力

  • 可緊密貼附于曲面工件上

應用:

  • 剩余壁厚測量

  • 腐蝕/侵蝕監控

  • 焊縫覆蓋和堆焊層的粘合/脫粘檢測

  • 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷

  • 探測螺栓或其他圓柱形部件中的裂紋

  • 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C; 7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C。對于表面溫度從90°C到425°C的工件,建議使用的工作周期為最多接觸10秒,然后至少在空氣中冷卻1分鐘(不適用于微型端部雙晶探頭

DC1–DC5雙晶腐蝕探頭

功能齊全的腐蝕監測工具箱,用于檢測管道和儲罐的完整性

用于管道和儲罐檢測的<strong>雙晶探頭</strong>

奧林巴斯提供的全套DC系列(DC1-DC5)雙晶探頭腐蝕監測工具箱可支持檢測人員完成管道和儲罐的檢測。這些探頭針對腐蝕和薄壁材料的檢測得到優化,可與各種無損檢測(NDT)儀器和超聲檢測程序配合使用。

套裝中的所有型號都提供比單晶探頭更清晰的信號,而且與我公司同類其他型號探頭相比,產生更少的振鈴現象,從而有助于探測到更小的缺陷,對靠近表面的區域進行檢測,并區分不同的缺陷指示。

DC1和DC2探頭:堅固耐用、用途廣泛,可檢測儲罐和管道

DC1和DC2雙晶探頭的頻率為7.5 MHz,屋頂角較小,可在鋼中的7.6毫米到50.8毫米的范圍內提供優質近表面分辨率。

主要優勢特性:

  • 適用于覆蓋薄壁材料

  • 在厚度測量、腐蝕成像和缺陷定量方面表現出色

  • 提供標準型(DC1)和厚壁型(DC2)外殼

  • 厚壁耐磨外殼(DC2),即使頻繁刮擦,也能持久耐用

  • 有效地檢測外徑小至25.4毫米(1英寸)的管道

  • 適用于檢測高溫管道和儲罐,配有耐熱延遲塊,可檢測溫度高達150°C的表面

  • 適用于進入到狹小空間進行檢測:薄剖面(高18毫米),端部直徑為0.455英寸(DC1)/ 0.56英寸(DC2)

  • 滾花外殼,易于抓握

  • 得益于其非模制的BNC和LEMO連接器,可以和許多儀器相兼容

  • 提高了彈簧應變消除性能(僅BNC連接器),降低了電纜損壞的幾率

DC1雙晶UT探頭

DC1


DC2雙晶UT探頭

DC2


DC3-DC5探頭:超越了腐蝕監測的性能,可對更薄的材料進行檢測

DC3、DC4和DC5雙晶探頭可提高檢測能力。得益于其5 MHz的頻率和優質晶片尺寸/位置,這幾種探頭可檢測更薄的材料(深度范圍為0到38.1毫米)。DC3型號的高角度設計可檢測薄壁管道的焊縫并完成其他應用,使該系列的檢測能力超越了腐蝕監測和厚度測量。

<strong>雙晶探頭</strong>可快速檢測管道焊縫

DC3-DC5

DC3探頭:對管道焊縫和薄壁材料進行快速檢測

DC3雙晶探頭的頻率為5 MHz,可生成高角度縱波,為檢測厚度范圍從0到15.24毫米的薄壁材料提供了優質近表面分辨率。

主要優勢特性:

  • 高角度縱波:可檢測薄壁材料,檢測能力超越了腐蝕監測

  • 可快速、可靠地檢測薄壁管道焊縫的UT檢測工具

  • 可以進行與同類型號探頭相似的高速手動焊縫檢測

  • 采用了可提高能量的雙晶壓電復合材料晶片

  • 為一發一收技術采用了隔音屏障,防止了串擾

  • 適用于在難以進入的狹小空間進行檢測,例如:鍋爐管

  • 集成的楔塊使探頭結構更緊湊

  • Microdot連接器可與各種NDT儀器相兼容

可完成的應用包括:

  • 高速手動檢測薄壁管道、鍋爐管和其他薄壁部件

  • 平面缺陷分析和定量

  • 從缺陷指示中區分出焊縫根部幾何形狀

  • 檢測管道的縱向焊縫和周向焊縫

  • 檢測鍋爐管焊縫

  • 檢測制藥業用管

  • 檢測熱交換器管

  • 核工業中的薄壁部件

用于檢測薄壁管道的<strong>雙晶探頭</strong>

用于檢測薄壁管道的<strong>雙晶探頭</strong>

DC3

DC4和DC5探頭:經過優化可對薄壁材料進行缺陷探測和厚度測量

DC4和DC5雙晶探頭的頻率為5 MHz,晶片稍微傾斜,生成0度縱波,可對范圍從0到38.1毫米的薄壁材料進行高性能厚度測量和缺陷探測。

主要優勢特性:

  • 為檢測薄壁材料提供優質近表面分辨率

  • 窄小的屋頂角提高了缺陷探測和厚度測量的能力

  • 替換楔塊延長了探頭的使用壽命

  • 為一發一收技術采用了隔音屏障,防止了串擾

  • Microdot連接器可與各種NDT儀器相兼容

用于檢測薄壁管道的<strong>雙晶探頭</strong>

DC4

用于檢測薄壁管道的<strong>雙晶探頭</strong>

DC5

混合搭配使用探頭,以滿足特定的檢測標準

取決于您的應用,這五個探頭中的任何一個探頭或多個探頭的組合,都可以提高腐蝕監測和缺陷定量的性能。隨著現場檢測的變化,您可以從完整的探頭套裝中獲益,套裝中探頭的總可測厚度范圍為0到50.8毫米,而且,DC3型號探頭是一種額外的管道焊縫檢測工具。

這些探頭與EPOCH 650、EPOCH 6LT探傷儀或38DL PLUS測厚儀配合使用,可準確、有效地進行腐蝕成像,以評估標稱壁厚、點蝕和缺陷類型/大小。

*由于屋頂角的原因,DC1、DC2、DC4和DC5探頭可能需要手動校正V聲程。

訂購信息

DC系列探頭的技術規格和尺寸

探頭工件編號制造商編號工件說明頻率標稱晶片尺寸電纜/連接器外殼外型尺寸



MHz英寸毫米

直徑高度長度寬度
Q3300872XASW-00067.5DS-0.375-0LW-DC1-P-1-RPL7.50.3759.522個,直角密封/LEMO 00連接器標準0.58 (14.73)0.73 (18.54)--
Q3300873XASW-00097.5DS-0.375-0LW-DC1-P-1-RP7.50.3759.522個,直角密封/BNC連接器標準0.58 (14.73)0.73 (18.54)--
Q3300945XASW-00107.5DS-0.375-0LW-DC2-P-1-RP7.50.3759.522個,直角密封/BNC連接器厚壁防磨0.58 (14.73)0.73 (18.54)--
Q3301219XASW-00127.5DS-0.375-0LW-DC2-P-1-RPL7.50.3759.522個,直角密封/LEMO 00連接器厚壁防磨0.58 (14.73)0.73 (18.54)--
Q3301828XASW-00295DS-5.08X7.62-DC3-RM50.2 × 0.35.08 × 7.622個,直角密封/BNC連接器Ultem-0.88 (22.2)--
Q3301829XASW-00305DS-12.7X12.7-0LW-DC4-RM-RW50.5 × 0.512.7 × 12.72個,直角密封/BNC連接器黑色陽極氧化鋁-0.84 (21.3)0.77 (19.4)0.60 (15.1)
Q3301830XASW-00315DS-12.7X25.4-0LW-DC5-RM-RW50.5 × 112.7 × 25.42個,直角密封/BNC連接器黑色陽極氧化鋁-0.90 (23.0)0.76 (19.2)0.78 (19.8)
Q700047510-009381-00SDC4-0L替換楔塊套裝-------1.38 (34.9)0.78 (19.8)
Q700047610-009382-00SDC5-0L替換楔塊套裝---------


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